2023年3月27日から30日にカリフォルニア州モントレーで開催されたIEEE　IRPS 2023において発表しました（電気工学科　村上研）。 

発表題目は、”Classification of Commercial SiC-MOSFETs Based on Time-Dependent Gate-current Characteristics”で、ルネサスエンジニアリングサービス、JEOL、産業技術総合研究所との共同研究です。

村上教授からのコメント 

車載半導体メーカから九産大に移って10年間、EV応用に期待されるSiC-MOSFETの信頼性評価を続けて来ました。学科の先生方には卒論発表のたびにご議論頂きました。2019年京都の学会を契機に、産業技術総合研究所から協力を得て、研究が拡がりました。さらに今回、ベンチャー企業からのコラボ提案もあり、EVへの本格実用化を加速したいです。